• 专利附录
  • 专利说明
  • 权利要求
  • 类似技术
  • 同族专利
  • 引用文献
  • 法律状态
  • 优先权
    • 专利摘要:
    Eine Kalibriereinrichtung zum Kalibrieren eines vektoriellen Netzwerkanalysators umfasst zumindest drei Kalibrierschaltungen. Eine erste Kalibrierschaltung (O.) besteht aus einem Leitungselement (1) mit einer bestimmten Länge (l). Eine zweite Kalibrierschaltung (1.) besteht aus der Hintereinanderschaltung eines Leitungselements mit der gleichen Länge (l) wie bei der ersten Kalibrierschaltung (1.) und eines ersten symmetrischen, reziproken Obstakel-Netzwerks (A). Eine dritte Kalibrierschaltung (3.) besteht aus der in Bezug zur zweiten Kalibrierschaltung (1.) in der Reihenfolge umgekehrten Hintereinanderschaltung eines zweiten symmetrischen, reziproken Obstakel-Netzwerks (A') und eines Leitungselements mit der gleichen Länge (l) wie bei der ersten und zweiten Kalibrierschaltung (0., 1.). Die Obstakel-Netzwerke (A) haben keine oder nur eine geringe Transmission.A calibration device for calibrating a vectorial network analyzer comprises at least three calibration circuits. A first calibration circuit (O.) consists of a line element (1) with a certain length (l). A second calibration circuit (1) consists of the series connection of a line element with the same length (l) as in the first calibration circuit (1) and a first symmetrical, reciprocal obstacle network (A). A third calibration circuit (3) consists of the inverse sequence with respect to the second calibration circuit (1) of a second symmetric reciprocal obstacle network (A ') and a line element of the same length (1) as in the first one and second calibration circuit (0, 1). The obstacle networks (A) have no or only a small transmission.
    公开号:DE102004012217A1
    申请号:DE200410012217
    申请日:2004-03-12
    公开日:2005-04-07
    发明作者:Ilona Dr. Rolfes；Burkhard Prof. Dr. Schiek
    申请人:Rohde and Schwarz GmbH and Co KG；
    IPC主号:G01R35-00
    专利说明:
    [0001] DieErfindung betrifft ein Verfahren zur Kalibrierung vektorieller 4-Messstellen-Netzwerkanalysatoren undeine entsprechende Kalibriereinrichtung.TheThe invention relates to a method for calibrating vectorial 4-measurement network analyzers anda corresponding calibration device.
    [0002] Netzwerkanalysatorenzur Vermessung hochfrequenter Stretuparameter von Ein- und Zweitorenweisen Systemfehler, wie etwa fehlangepasste Messtore, unvollkommeneRichtkoppler und frequenzabhängige nichtidealeMischer und Verstärkerauf. Zur Bestimmung der systemfehlerkorrigierten Streuparametereines Messobjektes ist es erforderlich, die Systemfehler in einemFehlermodell zu erfassen und die Fehlerparameter im Rahmen einerKalibrierung zu bestimmen. In 1 istein fürden 4-Messstellen-Netzwerkanalysator bekanntes Blockschaltbild gemäß dem sogenannten7-Term-Modell dargestellt. Das Blockschaltbild besteht aus der Hintereinanderschaltungder beiden Fehlerzweitore G und H zur Erfassung der Systemfehlersowie dem Messobjektzweitor (MO), wie dies beispielsweise aus Schiek,B., Grundlagen der Hochfrequenz-Messtechnik, Springer-Verlag, BerlinHeidelberg, 1999, Seiten 154–167bekannt ist. Im Rahmen der Kalibrierung des Netzwerkanalysatorslassen sich die unbekannten Fehlerzweitore G und H nur bis auf einenVorfaktor bestimmen. Ein Fehlerzweitorparameter kann somit freigewähltwerden, wie beispielsweise H22 = 1. Damitsind innerhalb der Kalibrierung sieben unbekannte Fehlerzweitorparameterzu berechnen, was sich in der Bezeichnung als 7-Term-Modell wiederspiegelt.Neben Kalibrierverfahren mit vollständig bekannten Kalibrierstandardsexistieren die sogenannten Selbstkalibrierverfahren mit teilweiseunbekannten Standards. Bei den Selbstkalibrierverfahren werden zusätzlich zuden Fehlerzweitoren G und H die unbekannten Parameter der Kalibrierstandards imRahmen einer Selbstkalibrierung bestimmt.Network analyzers for measuring high-frequency stretup parameters of one- and two-port systems have system errors such as mismatched test ports, imperfect directional couplers, and frequency-dependent non-ideal mixers and amplifiers. To determine the system-error-corrected scattering parameters of a measurement object, it is necessary to record the system errors in an error model and to determine the error parameters within the scope of a calibration. In 1 a block diagram known for the 4-point network analyzer according to the so-called 7-term model is shown. The block diagram consists of the series connection of the two Fehlerzweitore G and H for detecting the system errors and the Meßobjektzweitor (MO), as for example, Schiek, B., Basics of high-frequency measurement, Springer-Verlag, Berlin Heidelberg, 1999, pages 154- 167 is known. During the calibration of the network analyzer, the unknown error amplitudes G and H can only be determined up to a pre-factor. Thus, an error expander parameter can be freely selected, such as H 22 = 1. Thus, seven unknown error expander parameters must be calculated within the calibration, which is reflected in the designation as a 7-term model. In addition to calibration methods with completely known calibration standards, there are the so-called self-calibration methods with partially unknown standards. In the self-calibration method, in addition to the error gates G and H, the unknown parameters of the calibration standards are determined as part of a self-calibration.
    [0003] Zuden Selbstkalibrierverfahren zähltdas TRL-Verfahren, das aus Engen, G. F., Hoer, C. A., Thru-Reflect-Line:An improved technique for calibrating the dual six port automaticnetwork analyzer, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., Vol. MTT-27,Dez. 1979, Seiten 987–993,und Eul, H.-J., Schiek, B., A Generalized Theory and New CalibrationProcedures for Network Analyzer Self-Calibration, IEEE Trans. MicrowaveTheory Tech., Vol. MTT-39, April 1991, Seiten 724–731, bekanntist. Dabei steht T (engl. Through) für eine Durchverbindung, R (engl.Reflect) füreinen Reflexionsstandard und L (engl. Line) für ei ne Leitung mit einer Differenzlänge bezogenauf die Durchverbindung. Zur Durchführung der Systemfehlerkorrekturist die Vermessung der drei Kalibrierschaltungen erforderlich. Aufgrundder unterschiedlichen Längender Kalibrierschaltungen ist es allerdings nötig, die Messkabel während derKalibrierung zu verschieben. Das wirkt sich nachteilig auf die Messgenauigkeitaus, da die Messanordnung bezüglichder Phasenmessgenauigkeit empfindlich gegen derartige Verschiebungenist. Insbesondere erhöhensich dadurch die Anforderungen an die Phasenstabilität der Messkabelund die Komplexitätder Messvorrichtung nimmt zu. Desweiteren nimmt die Reproduzierbarkeitbei der Kontaktierung der Kalibrierschaltungen ab, und zwar aufgrundder erforderlichen Neukontaktierungen in unterschiedlichen Abständen.Tocounting the self-calibration procedurethe TRL method, that of Engen, G.F., Hoer, C.A., Thru-Reflect-Line:An improved technique for calibrating the dual six port automaticnetwork analyzer, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., Vol. MTT-27,Dec. 1979, pages 987-993,and Eul, H.-J., Schiek, B., A Generalized Theory and New CalibrationProcedures for Network Analyzer Self-Calibration, IEEE Trans. MicrowaveTheory Tech., Vol. MTT-39, April 1991, pages 724-731is. Where T stands for through-connection, R (engl.Reflect) fora reflection standard and L for each line with a difference in lengthon the through connection. To perform the system error correctionthe measurement of the three calibration circuits is required. by virtue ofof different lengthsThe calibration circuits, however, it is necessary, the measuring cable during theMove calibration. This has a disadvantageous effect on the measuring accuracyfrom, since the measuring arrangement with respectthe phase measurement accuracy sensitive to such shiftsis. In particular, increaseAs a result, the requirements for the phase stability of the measuring cableand the complexitythe measuring device increases. Furthermore, the reproducibility decreasesupon contacting the calibration circuits, due tothe required Neukontaktierungen at different intervals.
    [0004] Einweiteres bekanntes Selbstkalibrierverfahren für die Kalibrierung von Netzwerkanalysatorenstellt das LNN-Verfahren dar, das aus Heuermann, H., Schiek, B.,Line Network Network (LNN): An Alternative In-Fixture CalibrationProcedure, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., Vol. MTT-45, März 1997,Seiten 408–413bekannt ist. Dieses Verfahren benötigt vier Kalibrierstandards,die sich aus einem Leitungselement L sowie einem symmetrischen,reziproken Obstakelnetzwerk N (engl. Network) zusammensetzen. Dadie Kalibrierstandards bei dem LNN-Verfahren die gleiche Länge aufweisen,kommt dieses Verfahren ohne die Verschiebung der Messkabel aus.Dafür istes allerdings notwendig, bei im Allgemeinen unbekannter elektrischer Länge desLeitungselementes und unbekanntem Obstakel-Netzwerk, vier Kalibriermessungendurchzuführen. DieKalibrierung setzt sich aus der Vermessung eines Leitungsstandardsohne Obstakelnetzwerk und drei weiteren Messungen, bei denen dasObstakel nacheinander an unterschiedlichen Stellen des Leitungsstandards positioniertwird, zusammen. Es wird dabei vorausgesetzt, dass das Obstakel unterkeinen Umständentransmissionslos sein darf.OneAnother known self-calibration method for the calibration of network analyzersrepresents the LNN method which is described in Heuermann, H., Schiek, B.,Line Network Network (LNN): To Alternative In-Fixture CalibrationProcedure, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., Vol. MTT-45, March 1997,Pages 408-413is known. This method requires four calibration standards,which consists of a line element L and a symmetrical,reciprocal orchard network N (English: Network). Therethe calibration standards have the same length in the LNN method,this procedure works without the displacement of the measuring cables.That's itHowever, it is necessary, with generally unknown electrical length ofConductor element and unknown obstacle network, four calibration measurementsperform. TheCalibration is based on the measurement of a line standardwithout Obstakelnetzwerk and three further measurements, in which theObstacle successively positioned at different points of the line standardwill, together. It is assumed that the obstacle belowno circumstancesmay be transmissive.
    [0005] Seiteinigen Jahren lassen sich Netzwerkanalysatoren mit einer nahezubeliebig großenAnzahl n an Messtoren fürdie Detektion der komplexen Reflexions- und Transmissionseigenschaftenvon Mehrtorobjekten einsetzen. Verfahren hierzu werden beispielsweisein den Druckschriften DE199 18 697 A1 und DE199 18 960 A1 beschrieben. Die DE 199 18 960 A1 basiertdabei auf dem fürZweitor-Messungen eingesetzten 7-Term-Verfahren und die DE 199 18 697 A1 auffür Zweitor-Messungeneingesetzten 10-Term-Verfahren.For some years now, network analyzers with an almost unlimited number of n gates have been used to detect the complex reflection and transmission properties of multi-gate objects. Processes for this purpose are described, for example, in the publications DE 199 18 697 A1 and DE 199 18 960 A1 described. The DE 199 18 960 A1 is based on the used for two-port measurements 7-term method and the DE 199 18 697 A1 on 10-term methods used for two-port measurements.
    [0006] DerErfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein robustes und breitbandigesVerfahren zur Kalibrierung eines Netzwerkanalysators anzugeben undeine entsprechende Kalibriereinrichtung auf der Basis von Obstakelnetzwerken,die transmissionslos sein können,zu realisieren und dabei den Platzbedarf der Kalibrierschaltungenzu reduzieren, sowie eine vorteilhafte Verwendung anzugeben.Of theInvention is based on the object, a robust and broadbandSpecify method for calibrating a network analyzer anda corresponding calibration facility based on orchard networks,that can be transmissive,and to realize the space required by the calibration circuitsas well as to indicate a beneficial use.
    [0007] DieAufgabe wird bezüglichder Kalibriereinrichtung durch die Merkmale des Anspruchs 1, bezüglich desKalibrierverfahrens durch die Merkmale des Anspruchs 12 und bezüglich derVerwendung durch die Merkmale des Anspruchs 13 gelöst.TheTask is relativethe calibration device by the features of claim 1, with respect toCalibration method by the features of claim 12 and with respect toUse solved by the features of claim 13.
    [0008] Daserfindungsgemäße Verfahrenbasiert auf der Vermessung von drei bis fünf Kalibrierschaltungen, dieaus einem Leitungselement unbekannter elektrischer Länge undzwei unbekannten symmetrischen, reziproken Obstakel-Netzwerken aufgebautsind. Die Obstakel-Netzwerkewerden an zwei unterschiedlichen Positionen platziert. Die Kalibrierschaltungenkönnenbeispielsweise ätztechnischauf der Basis von Mikrostreifenleitungsschaltungen realisiert sein.Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin,dass die Kalibrierschaltungen die gleiche Länge aufweisen. Damit ist eineVeränderungdes Abstandes zwischen den Kontaktierungsanschlüssen und eine Verschiebungder Messkabel währendder Kalibrierung nicht erforderlich, wodurch sich die Anforderungenan die Komplexitätder Messvorrichtung reduzieren. Ein weiterer Vorteil der Erfindungbesteht darin, dass die Obstakelnetzwerke transmissionslos seinkönnen.Es ist somit möglich,die Obstakelnetzwerke als reine Reflexionen auszuführen undauf diese Weise gegenüberrein transmissiven Netzwerken eine höhere Breitbandigkeit bezüglich desnutzbaren Frequenzbereiches zu erzielen.Theinventive methodbased on the measurement of three to five calibration circuits, thefrom a line element of unknown electrical length andbuilt two unknown symmetric, reciprocal Obstakel networksare. The Obstacle Networksare placed in two different positions. The calibration circuitscanfor example, etchingbe realized on the basis of microstrip line circuits.The advantages achieved by the invention are, in particular,that the calibration circuits have the same length. This is onechangethe distance between the Kontaktierungsanschlüssen and a shiftthe measuring cable duringthe calibration is not required, thereby reducing the requirementsto the complexityreduce the measuring device. Another advantage of the inventionis that the fruit-tickle networks are transmissivecan.It is thus possibleto perform the orchestra networks as pure reflections andin this way oppositepurely transmissive networks have a higher bandwidth with respect tousable frequency range to achieve.
    [0009] EineVariante der Erfindung geht davon aus, dass das Obstakelnetzwerkvollständigtransmissionslos ist.AVariant of the invention assumes that the ObstakelnetzwerkCompletelyis transmissive.
    [0010] Eineandere Variante der Erfindung basiert darauf, dass die elektrischeLänge desLeitungselementes bereits bekannt ist und somit im Rahmen der Selbstkalibrierungnicht mehr zu bestimmen ist. Die Kalibrierung kann damit auf derBasis von nur drei Kalibrierschaltungen mit nur einem unbekanntenObstakelnetzwerk erfolgen.AAnother variant of the invention is based on the fact that the electricalLength of theLine element is already known and thus in the context of self-calibrationis no longer to be determined. The calibration can thus on theBase of only three calibration circuits with only one unknownObstakelnetzwerk done.
    [0011] Eineweitere Variante der Erfindung ermöglicht die Automatisierungder Kalibrierung durch die Zuschaltung des Obstakelnetzwerkes z.B.mit Hilfe mechanischer oder elektromechanischer Schalter.AAnother variant of the invention enables automationthe calibration by the connection of the Obstakelnetzwerkes e.g.using mechanical or electromechanical switches.
    [0012] EineVerwendung der Erfindung betrifft die Bestimmung des Leitungsparameters γ bei Kenntnisder Leitungslängel, sowie die damit verbundene Möglichkeit,die komplexe Permittivität ε oder Permeabilität μ zu bestimmen.Das Verfahren eignet sich damit beispielsweise auch zur Durchführung vonMaterialfeuchtemessungen.AUse of the invention relates to the determination of the line parameter γ in the case of knowledgethe cable lengthl, as well as the associated possibilityto determine the complex permittivity ε or permeability μ.The method is thus suitable, for example, for carrying outMaterial moisture measurements.
    [0013] Eineweitere Variante der Erfindung betrifft die Möglichkeit, anstelle von Streifenleitungenandere Leitungen zu verwenden, wie beispielsweise Koplanarleitungen,Schlitzleitungen, Hohlleitungen oder dielektrische Leitungen.AAnother variant of the invention relates to the possibility of strip lines insteadto use other lines, such as coplanar lines,Slot lines, hollow lines or dielectric lines.
    [0014] Fernerbesteht die Anwendbarkeit des erfindungsgemäßen Verfahrens bei der Übertragunghochfrequenter Signale in Medien, in denen elektromagnetische Wellenausbreitungsfähigsind, wie etwa dem Freiraum, wobei das Obstakelnetzwerk in Formvon beispielsweise dielektrischen Platten oder Metallplatten zugeschaltetoder zugeführtwird. Die Platten könnenaber auch isotrope magnetische Eigenschaften aufweisen oder ausfaser-, auch metallfaser-verstärktenVerbundwerkstoffen bestehen.Furtheris the applicability of the method according to the invention in the transmissionhigh-frequency signals in media containing electromagnetic wavespropagatedare, such as the open space, where the orchard network in shapeconnected by, for example, dielectric plates or metal platesor fedbecomes. The plates canbut also have or exhibit isotropic magnetic propertiesfiber, also reinforced metal fiberComposites exist.
    [0015] Ausführungsbeispieleder Erfindung werden im Folgenden anhand schematischer Zeichnungennäher erläutert. Inder Zeichnung zeigen:embodimentsThe invention will be described below with reference to schematic drawingsexplained in more detail. Inshow the drawing:
    [0016] 1 ein Blockschaltbild zurErläuterungdes 7-Term-Modells; 1 a block diagram for explaining the 7-term model;
    [0017] 2 eine schematische Darstellungder Kalibrierschaltungen; 2 a schematic representation of the calibration circuits;
    [0018] 3A ein erfindungsgemäß verwendbaresObstakel in Mikrostreifenleitungstechnik ohne Transmission; 3A an inventively usable Obstakel in microstrip line technology without transmission;
    [0019] 3B ein Obstakel in Mikrostreifenleitungstechnikmit großerTransmission; 3B a treble hook in microstrip line technology with high transmission;
    [0020] 3C ein erfindungsgemäß verwendbaresObstakel in Mikrostreifenleitungstechnik mit sehr geringer Transmission; 3C an inventively usable Obstakel in microstrip line technology with very low transmission;
    [0021] 4 die Messwertmatrizen; 4 the measured value matrices;
    [0022] 5 eine Realisierung desObstakelnetzwerks als Mikrostreifenstrtukturen und 5 a realization of the fruit necklace network as Mikrostreifenstrtukturen and
    [0023] 6 die schematische Darstellungeines Freiraummesssystems. 6 the schematic representation of a free space measurement system.
    [0024] In 2 sind die Kalibrierschaltungendes erfindungsgemäßen Verfahrensschematisch dargestellt. Die Kalibrierschaltungen bestehen aus einemLeitungselement 1 der physikalischen Länge l mit der unbekannten Ausbreitungskonstante γ und derTransmissionsmatrix L:
    [0025] Dabeisind die Messwertmatrizen Mi mit i = 0,...,4 aus Messungen bekannt und könnenentsprechend 4 wie folgtin allgemeiner Schreibweise in Abhängigkeit von Wellengrößen angegebenwerden:
    [0026] Dabeiwird mit den Strichen gekennzeichnet, von welcher Seite des Systemsdas Generatorsignal eingespeist wird. Die eingestrichenen Größen deutenauf die Einspeisung in Richtung von a1 hinund die zweigestrichenen Größen in Richtungvon a4.In this case, the lines indicate from which side of the system the generator signal is fed. The set sizes indicate the feed towards a 1 and the two-pointed sizes towards a 4 .
    [0027] Erfindungsgemäß wird eineKonfiguration betrachtet, bei der davon ausgegangen wird, dass das Obstakelnetzwerkmit nur schwacher oder ohne Transmission realisiert ist. Mögliche Ausführungenals Mikrostreifenleitungsstrukturen sind exemplarisch in 5 dargestellt. Die Obstakel-NetzwerkeA und A' sind untereinanderidentisch und unterschiedlich zu den Obstakel-Netzwerken B und B', die untereinanderwiederum identisch sind. Da das Obstakelnetzwerk auch als reineReflexion realisiert sein kann, ist eine Beschreibung über Transmissionsmatrizennicht möglich.According to the invention, a configuration is considered in which it is assumed that the orchard network is realized with only weak or no transmission. Possible embodiments as microstrip line structures are exemplary in 5 shown. The obstacle networks A and A 'are identical to each other and different from the obstacle networks B and B', which in turn are identical to each other. Since the orchard network can also be realized as a pure reflection, a description of transmission matrices is not possible.
    [0028] DieObstakel-Netzwerke werden erfindungsgemäß mit Hilfe sogenannter PseudoTransmissionsmatrizenbeschrieben. Die Pseudo-Transmissionsmatrizen werden gebildet, indemaus den Messwertmatrizen jeweils die Determinaten Δmaj, Δmbj,j = 1, 2, welche zu Null werden können, herausgezogenwerden und der verbleibende endliche Teil der Matrix mit Mi bezeichnet wird. Daraus folgt für die Kalibrierschaltungen1 bis 4:
    [0029] DieProdukte aus den Determinanten und den Obstakel-Transmissionsmatrizenwerden als Pseudo-Transmissionsmatrizen bezeichnet. Mit dem allgemeinenZusammenhang zwischen einer Transmissionsmatrix T und den StreuparameternS11, S12, S21, S22
    [0030] Damitsind die Kalibrierschaltungen auf der Basis von 11 Parametern beschreibbar: μfa1, μra1, μfb1, μrb1, μfa2, μra2, μfb2, μrb2, ρa, ρb undkThus, the calibration circuits can be written on the basis of 11 parameters: μ fa1 , μ ra1 , μ fb1 , μ rb1 , μ fa2 , μ ra2 , μ fb2 , μ rb2 , ρ a , ρ b and k
    [0031] DieSymmetrieeigenschaft der Obstakel-Netzwerke wurde dabei bereitsausgenutzt: Sa,11 = ρa = Sa,22 (17) Sb,11 = ρb = Sb,22 (18) The symmetry property of the obstacle networks has already been exploited: S a, 11 = ρ a = S a, 22 (17) S b . 11 = ρ b = S b, 22 (18)
    [0032] Mitder zusätzlichgeforderten Reziprozitätfolgt:
    [0033] ZurBestimmung der unbekannten Parameter werden die folgenden Spurgleichungenaus den Produkten der Messwertmatrizen gebildet. Die unbekanntenFehlerzweitore G und H lassen sich auf diese Weise eliminieren. β1 =spur{M ~1M0 –1}= spur{G–1LA1H(G–1LH)–1}= spur{A1} (23) β2 =spur{M ~2M0 –1}= spur{B1} (24) β3 =spur{M ~3M0 –1}= spur{A2} (25) β4 =spur{M ~4M0 –1}= spur{B2} (26) β5 =spur{M ~2M0 –1M ~1M0 –1}= spur{A1B1} (27) β6 =spur{M ~4M0 –1M ~3M0 –1}= spur{A2B2} (28) β7 =spur{M ~3M0 –1M ~1M0 –1}= spur{A2LA1L–1} (29) β8 =spur{M ~3M0 –1MM ~2M0 –1}= spur{A2LB1L–1} (30) β9 =spur{M ~4M0 –1MM ~1M0 –1}= spur{B2LA1L–1} (31) β10 =spur{M ~4M0 –1M ~2M0 –1}= spur{B2LB1L–1} (32) To determine the unknown parameters, the following track equations are formed from the products of the measured value matrices. The unknown error amplitudes G and H can be eliminated in this way. β 1 = track {M ~ 1 M 0 -1 } = track {G -1 LA 1 H (G -1 LH) -1 } = trace {A 1 } (23) β 2 = track {M ~ 2 M 0 -1 } = track {B 1 } (24) β 3 = track {M ~ 3 M 0 -1 } = trace {A 2 } (25) β 4 = track {M ~ 4 M 0 -1 } = track {B 2 } (26) β 5 = track {M ~ 2 M 0 -1 M ~ 1 M 0 -1 } = trace {A 1 B 1 } (27) β 6 = track {M ~ 4 M 0 -1 M ~ 3 M 0 -1 } = trace {A 2 B 2 } (28) β 7 = track {M ~ 3 M 0 -1 M ~ 1 M 0 -1 } = trace {A 2 LA 1 L -1 } (29) β 8th = track {M ~ 3 M 0 -1 MM ~ 2 M 0 -1 } = trace {A 2 LB 1 L -1 } (30) β 9 = track {M ~ 4 M 0 -1 MM ~ 1 M 0 -1 } = track {B 2 LA 1 L -1 } (31) β 10 = track {M ~ 4 M 0 -1 M ~ 2 M 0 -1 } = track {B 2 LB 1 L -1 } (32)
    [0034] AusGl. (23) folgt eine Beziehung fürden Reflexionsfaktor ρa:
    [0035] Entsprechenderhältman aus Gl. (24) fürden Reflexionsfaktor ρb:
    [0036] Zudemlassen sich aus den Gleichungen (23) bis (26) die folgenden Beziehungenableiten:
    [0037] Für den Obstakelparameter μfb1 erhält man:
    [0038] Gleichsetzender Gleichungen (41) und (42) führtauf einen weiteren Zusammenhang zwischen den Größen μfa1 und μfb1.Zusammen mit Gleichung (36) lässtsich fürden Obstakelparameter μfa1 die folgende quadratische Bestimmungsgleichungableiten:
    [0039] Damitkönnenim Rahmen der Selbstkalibrierung des erfindungsgemäßen LR1R2-Verfahrens dieunbekannten Parameter der Obstakel-Netzwerke und des Leitungselementesbestimmt werden. Um die jeweils richtige Vorzeichenentscheidungtreffen zu können,sind Informationen überdie ungefährengeometrischen Abmessungen der Kalibrierschaltungen erforderlich.Thus, within the scope of the self-calibration of the LR 1 R 2 method according to the invention, the unknown parameters of the obstacle networks and of the line element can be determined. In order to be able to make the correct sign decision, information about the approximate geometric dimensions of the calibration circuits is required.
    [0040] Für das erfindungsgemäße LR1R2-Verfahren mitschwacher Transmission existiert neben der Lösung mit fünf Kalibrierschaltungen einweiterer Lösungswegauf der Basis von bereits vier Kalibrierschaltungen. Für diesenWeg werden beispielsweise nur die obersten vier Kalibrierschaltungenin 5 betrachtet. DieParameter μfb 2 und μrb2 sinddamit im Folgenden nicht zu bestimmen. Für diese Ausführung lassensich wiederum die Spurgleichungen (23) bis (25), (27) und (29) bis(30) aufstellen, so dass die Beziehungen (33) und (34) sowie dieGleichungen (35), (36) und (41) des vorhergehenden Lösungsweges übernommenwerden können. Manerhältdamit einen Zusammenhang fürdie Parameter ρa, ρb, μfa2, μfb1 und k in Abhängigkeit von μf a1. Zusammen mit der Gleichung (27) lasst sichauf dieser Basis ein Polynom 4. Grades zur Bestimmung des Obstakelparameters μfa1 ableiten.For the LR 1 R 2 method according to the invention with weak transmission, in addition to the solution with five calibration circuits, another approach based on already four calibration circuits exists. For example, only the top four calibration circuits in 5 considered. The parameters μ fb 2 and μ rb2 can therefore not be determined below. For this embodiment again the track equations (23) to (25), (27) and (29) to (30) can be set up, so that the relationships (33) and (34) as well as the equations (35), (36) and (41) of the previous approach. This gives a relationship for the parameters ρ a , ρ b , μ fa 2 , μ fb1 and k as a function of μ f a1 . Together with the equation (27) it is possible to derive on this basis a polynomial of degree 4 for the determination of the obstacle parameter μ fa1 .
    [0041] DieKoeffizienten m10,..., m14 hängen dabeinur noch von Parametern ab, die aus Messungen bekannt sind.The coefficients m 10 ,..., M 14 depend only on parameters that are known from measurements.
    [0042] Für ein weiteresAusführungsbeispielwird angenommen, dass das Obstakelnetzwerk völlig transmissionslos ist.Die Kalibrierstrukturen könnenwiederum in Mikrostreifenleitungstechnik, wie beispielsweise in 5 dargestellt, realisiertsein. Entsprechend der Anordnung in 4 lassensich die Wellengrößen a2,i, a3,i, b2,i und b3,i, i =1... 4 in Abhängigkeitdes Leittungsparameters k und der Reflexionskoeffizienten ρa und ρb wie folgtdefinieren:
    [0043] ImRahmen der Selbstkalibrierung werden wiederum die Reflexionskoeffizientenund der Leitungsparameter bestimmt. Für diesen Zweck kann das FehlerzweitorG–1 mittelsder folgenden Gleichungen beschrieben werden,
    [0044] Bezüglich desFehlerzweitors H läßt sicheine ähnlicheGleichung finden.
    [0045] Betrachtetman die erste Struktur der LR1R2-Methodemit H–1 =M0 –1G–1L,so kann man Gleichung (52) wie folgt umschreiben:
    [0046] Für die verschiedenenStrukturen in 5 kannman mit:
    [0047] DerLeitungsparameter und die Reflexionskoeffizienten können somitwie folgt berechnet werden:
    [0048] Für die Wahlder richtigen Lösungist wiederum eine ungefähreKenntnis der geometrischen Abmessungen der Kalibrierschaltungenerforderlich.For the electionthe right solutionis again an approximateKnowledge of the geometric dimensions of the calibration circuitsrequired.
    [0049] Beidem vorstehend dargestellten Lösungswegwurden insgesamt fünfKalibrierschaltungen verwendet. Im Folgenden wird für den Fallohne Transmission eine Lösungmit einer reduzierten Anzahl an Kalibrierschaltungen angeführt, dieauf vier Kalibrierschaltungen basiert. Die Struktur 4 aus 2 wird daher für diesen Lösungswegim Weiteren nicht mehr betrachtet. Entsprechend der Gleichungen(56) bis (59) werden die folgenden Bilinear-Transformationen aufgestellt:
    [0050] Für den Leitungsparameterk und den Reflexionskoeffizienten ρb ergebensich die folgenden quadratischen Gleichungen in Abhängigkeitdes Reflexionskoeffizienten ρa:
    [0051] DerReflexionskoeffizient ρa ergibt sich aus dem folgenden Polynom 4.Grades:
    [0052] Für die Wahlder korrekten Lösungsind wiederum ungefähreKenntnisse überdie geometrischen Abmessungen der Kalibrierschaltungen erforderlich.Damit sind auch fürdiese Variante die unbekannten Parameter der Kalibrierschaltungenbestimmt.For the electionthe correct solutionare again approximateKnowledge aboutthe geometric dimensions of the calibration required.So are also forthis variant the unknown parameters of the calibration circuitscertainly.
    [0053] Mitder vollständigenKenntnis der Kalibrierschaltungen können damit die FehlerzweitoreG und H des 7-Term-Modells entsprechend der Kalibrierverfahren mitvollständigbekannten Kalibrierstandards bestimmt werden.Withthe completeKnowledge of the calibration circuits can thus the FehlerzweitoreG and H of the 7-term model according to the calibration withCompletelybe determined known calibration standards.
    [0054] Für die Ausführung desKalibrierverfahrens gemäß einemweiteren Ausführungsbeispielwird die Kenntnis des Leitungsparameters k vorausgesetzt. Die Kalibrieranordnunglässt sichdamit auf insgesamt drei Kalibrierschaltungen mit einem unbekanntenObstakelnetzwerk reduzieren. Mit der Kalibrieranordnung aus 5 genügt für diese Ausführung dieBetrachtung der Kalibrierschaltungen 0., 1. und 3..Die unbekannten Obstakelparameter ergeben sich für den Fall schwacher Transmissionbeziehungsweise keiner Transmission aus Gleichung (33) für ρa,Gleichung (35) für μfa2 undGleichung (41) lässtsich umformen in eine quadratische Gleichung zur Bestimmung von μfa1 beiKenntnis von k.For the execution of the calibration method according to a further embodiment, the knowledge of the line parameter k is assumed. The calibration arrangement can thus be reduced to a total of three calibration circuits with an unknown orchard network. With the calibration arrangement off 5 suffices for this embodiment, the consideration of the calibration circuits 0 ., 1 , and 3 The unknown obstacle parameters result for the case of weak transmission or no transmission from equation (33) for ρ a , equation (35) for μ fa2 and equation (41) can be transformed into a quadratic equation for the determination of μ fa1 in the case of knowledge from k.
    [0055] Für den Falltransmissionsloser Obstakel-Netzwerke ist ein unbekannter Reflexionsfaktorzu bestimmen. Hierzu kann Gleichung (57) in eine quadratische Beziehungin Abhängigkeitvon ρa umgeformt werden, mit:
    [0056] Beibekanntem k könnensomit fürden transmissionslosen Fall und für den Fall schwacher Transmissiondie unbekannten Kalibrierschaltungsparameter auf der Basis von dreiKalibrierschaltungen ermittelt werden.atknown k canthus forthe transmissionless case and in the case of weak transmissionthe unknown calibration circuit parameters based on threeCalibration circuits are determined.
    [0057] Daserfindungsgemäße Verfahrenermöglichtbei bekannter Leitungslängel die Bestimmung des Leitungsparameters γ des Leitungselementes und damitauch die Bestimmung der komplexen Permittivität εr oder Permeabilität μr vonMaterialien mit
    [0058] Dieerfindungsgemäßen Verfahrenkönnenauch vorteilhaft zur Kalibrierung eines Messsystems im Freiraumeingesetzt werden. In 6 istdie Anordnung eines Freiraummesssystems zu sehen. Zwischen zweian einen Netzwerkanalysator angeschlossenen Antennen 3 befindetsich ein Linsenpaar 4 zur Fokussierung der Sendesignaledes Netzwerkanalysators 5 in ihrem Zwischenraum. Die Kalibrierungdes Messsystems kann gemäß des erfindungsgemäßen LR1R2-Verfahrens durchgeführt werden.Hierzu wird in der Nähedes Fokusbereiches die Materialprobe, die das Obstakel 2 bildetund beispielsweise als dielektrische Platte oder Metallplatte mitder Dicke d realisiert sein kann, positioniert. Die Antennen müssen während derKalibrierung nicht verschoben werden. Dagegen wird die Platte nacheinanderan zwei um die Längelversetzten Positionen 8 und 9 im Freiraum 10 angeordnet.The methods according to the invention can also be advantageously used for calibrating a measuring system in free space. In 6 the arrangement of a free-space measuring system can be seen. Between two antennas connected to a network analyzer 3 there is a pair of lenses 4 for focusing the transmission signals of the network analyzer 5 in their space. The calibration of the measuring system can be carried out according to the LR 1 R 2 method according to the invention. For this purpose, in the vicinity of the focus area, the material sample, the Obstacle 2 forms and, for example, as a dielectric plate or metal plate can be realized with the thickness d, positioned. The antennas do not have to be moved during calibration. In contrast, the plate is successively at two positions offset by the length 8th and 9 in the open space 10 arranged.
    [0059] Nacherfolgter Kalibrierung lassen sich mit einem Freiraummesssystemdie Permittivitätund Permeabilitätvon Materialien bestimmen, wenn die zu untersuchenden Materialienin Form planarer Platten vorliegen.ToSuccessful calibration can be done with a free-space measuring systemthe permittivityand permeabilityof materials determine when the materials to be studiedin the form of planar plates.
    [0060] Aufder Basis der gemessenen fehlerkorrigierten Streuparameter S11 und S21 der Materialprobelassen sich die komplexe Permittivität εr undPermeabilität μr berechnen.Für dieMaterialprobe der Dicke d mit dem normierten Wellenwiderstand Zsn und der Ausbreitungskonstanten γ gilt für den Reflexionskoeffizienten Γ an der Grenzschichtzwischen dem Freiraum und dem Material:
    [0061] Mitder Ausbreitungskonstanten
    [0062] Dabeilassen sich der Reflexionskoeffizient Γ und der TransmissionskoeffizientT in Abhängigkeitder Streuparameter wie folgt angeben:
    [0063] DieErfindung ist nicht auf die dargestellten Ausführungsbeispiele beschränkt undhat vielfältigeAnwendungen. Die Merkmale sämtlicherAusführungsbeispielelassen sich beliebig miteinander kombinieren. Anstatt von Streifenleitungenkönnenauch andere Leitungsformen, wie z.B. Koplanarleitungen, Schlitzleitungen, Hohlleitungenoder dielektrische Leitungen verwendet werden. Auch ist es möglich, dieObstakel-Netzwerke aus einem oder mehreren dielektrischen, isotropmagnetischen oder metallisch leitenden Körpern aufzubauen und über z.B.mechanische, elektromechanische oder pneumatische Betätigungselementeauf die Leitungselemente aufzusetzen oder in deren Nähe zu bringen.Auf diese Weise ist eine automatische oder teilautomatische Messungmöglich.TheInvention is not limited to the illustrated embodiments andhas manyApplications. The characteristics of allembodimentscan be combined with each other. Instead of strip linescanalso other types of conduits, e.g. Coplanar lines, slot lines, hollow linesor dielectric lines are used. Also, it is possible theObstacle networks of one or more dielectric, isotropicbuild up magnetic or metallic conductive bodies and via e.g.mechanical, electromechanical or pneumatic actuatorsput on the line elements or to bring them in their vicinity.This is an automatic or semi-automatic measurementpossible.
    权利要求:
    Claims (13)
    [1]
    Kalibriereinrichtung zum Kalibrieren eines vektoriellenNetzwerkanalysators mit zumindest drei Kalibrierschaltungen, wobeieine erste Kalibrierschaltung (0.) aus einem Leitungselement(1) mit einer bestimmten Länge (l) besteht, wobeieine zweite Kalibrierschaltung (1.) aus der Hintereinanderschaltungeines Leitungselements mit im wesentlichen der gleichen Länge (l),wie bei der ersten Kalibrierschaltung (0.), und eines erstensymmetrischen, reziproken Obstakel-Netzwerks (A) erster Art besteht, wobeieine dritte Kalibrierschaltung (3.) aus der in Bezug zurzweiten Kalibrierschaltung (1.) in der Reihenfolge umgekehrtenHintereinanderschaltung eines zweiten symmetrischen, reziprokenObstakel-Netzwerks (A')erster Art und eines Leitungselements mit im wesentlichen der gleichenLänge (l),wie bei der ersten und zweiten Kalibrierschaltung (0.,1.),besteht, und wobei die beiden Obstakel-Netzwerke (A) ersterArt im wesentlichen identisch sind und keine oder nur eine geringeTransmission aufweisen.Calibration device for calibrating a vectorial network analyzer with at least three calibration circuits, wherein a first calibration circuit ( 0 .) From a line element ( 1 ) with a certain length (l), wherein a second calibration circuit ( 1 .) From the series connection of a line element with substantially the same length (l), as in the first calibration circuit ( 0 .), and a first symmetric, reciprocal Obstakel network (A) of the first kind, wherein a third calibration circuit ( 3 .) from the relative to the second calibration circuit ( 1 .) in the order of inverse series connection of a second symmetrical, reciprocal Obstakel network (A ') of the first kind and a line element having substantially the same length (l) as in the first and second calibration circuit ( 0 ., 1 .), and wherein the two kind of first-kind of obstacle networks (A) are substantially identical and have no or only a low transmission.
    [2]
    Kalibriereinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,dass die elektrische Länge(l) der Leitungselemente als bekannte Größe fest definiert ist und dieKalibriereinrichtung keine weiteren Kalibrierschaltungen umfasst.Calibration device according to claim 1, characterized in thatthat the electrical length(L) the line elements is defined as a known size and theCalibration device includes no other calibration circuits.
    [3]
    Kalibriereinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dassdie elektrische Länge(l) der Leitungselemente nicht als bekannte Größe definiert ist und dassdie Kalibriereinrichtung eine vierte Kalibrierschaltung (2.)aufweist, die aus der Hintereinanderschaltung eines Leitungselementsmit im wesentlichen der gleichen Länge (l), wie bei der ersten,zweiten und dritten Kalibrierschaltung (0.,1.,3.),und eines ersten symmetrischen, reziproken Obstakel-Netzwerks (B)zweiter Art besteht, das anders beschaffen ist als die beiden Obstakel-Netzwerke(A,A') erster Artaber ebenfalls keine oder nur eine geringe Transmission aufweist.Calibration device according to claim 1, characterized in that the electrical length (l) of the line elements is not defined as known size and that the calibration device comprises a fourth calibration circuit ( 2 .) Which consists of the series connection of a line element with substantially the same length (l), as in the first, second and third calibration circuit ( 0 ., 1 ., 3 .), and a first symmetric, reciprocal second-type fruit-bundle network (B), which is different from the two kind of first-type obstacle networks (A, A ') but also no or has only a low transmission.
    [4]
    Kalibriereinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dassdas erste Obstakel-Netzwerk (B) zweiter Art in Richtung der Längserstreckungder Leitungselemente entweder an der Position des ersten Obstakel-Netzwerks(A) erster Art oder an der Position des zweiten Obstakel-Netzwerks(A') erster Artangeordnet ist.Calibration device according to claim 3, characterized in thatthe first kind of network of fruit trees (B) of the second kind in the direction of the longitudinal extensionthe line elements either at the location of the first obstacle network(A) first kind or at the position of the second obstacle network(A ') first kindis arranged.
    [5]
    Kalibriereinrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurchgekennzeichnet, dass die Kalibriereinrichtung eine fünfte Kalibrierschaltung(4.) aufweist, die aus der in Bezug zur vierten Kalibrierschaltungin der Reihenfolge umgekehrten Hintereinanderschaltung eines Leitungselementsmit im wesentlichen der gleichen Länge (l), wie bei der ersten,zweiten, dritten und vierten Kalibrierschaltung (0.,1.,2.,3.), undeines zweiten symmetrischen, reziproken Obstakel-Netzwerks (B') zweiter Art besteht, wobeidie beiden Obstakel-Netzwerke (B,B') zweiter Art im wesentlichen identischsind.Calibration device according to claim 3 or 4, characterized in that the calibration device a fifth calibration circuit ( 4 .) comprising the inverse sequence of a line element of substantially the same length (l) in relation to the fourth calibration circuit, as in the first, second, third and fourth calibration circuits ( 0 ., 1 ., 2 ., 3 .), and a second symmetric, reciprocal, second-type, obstacle network (B '), the two kind of second-order (A, B, B') networks being essentially identical.
    [6]
    Kalibrereinrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,dass das zweite Obstakel-Netzwerk (B') zweiter Art in Richtung der Längserstreckungder Leitungselemente entweder an der Position des ersten Obstakel-Netzwerks(A) erster Art oder an der Position des zweiten Obstakel-Netzwerks(A') erster Art,nicht aber an der Position des ersten Obstakel-Netzwerks (B) zweiterArt, angeordnet ist.Calibrator according to claim 5, characterized in thatthat the second kind of obstacle network (B ') of the second kind in the direction of the longitudinal extentthe line elements either at the location of the first obstacle network(A) first kind or at the position of the second obstacle network(A ') first kind,but not at the position of the first obstacle network (B) secondKind, is arranged.
    [7]
    Kalibriereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis6, dadurch gekennzeichnet, dass die Obstakel-Netzwerke (A,A') erster Art und/oderdie Obstakel-Netzwerke (B,B')zweiter Art im wesentlichen vollständig transmissionslos ausgebildetsind.Calibration device according to one of claims 1 to6, characterized in that the Obstakel networks (A, A ') of the first kind and / orthe Obstacle Networks (B, B ')second type substantially completely transmissive formedare.
    [8]
    Kalibriereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis7, dadurch gekennzeichnet, dass die Leitungselemente und die Obstakel-Netzwerke(A,A',B,B') als Streifenleitungselementeausgebildet sind.Calibration device according to one of claims 1 to7, characterized in that the conduit elements and the obstacle networks(A, A ', B, B') as stripline elementsare formed.
    [9]
    Kalibriereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis7, dadurch gekennzeichnet, dass die Leitungselemente als Streifenleitungselementeausgebildet sind und dass die Obstakel-Netzwerke (A,A',B,B') mittels Betätigungselementeauf die Streifenleitungselemente aufsetzbar oder in die Nähe der Streifenleitungselemente bringbarsind.Calibration device according to one of claims 1 to7, characterized in that the conduit elements as stripline elementsare formed and that the Obstakel networks (A, A ', B, B') by means of actuatorsplaced on the stripline elements or brought in the vicinity of the stripline elementsare.
    [10]
    Kalibriereinrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,dass die Obstakel-Netzwerke (A,A',B,B') aus einem odermehreren dielektrischen, isotrop magnetischen oder metallisch leitendenKörpern bestehen.Calibration device according to claim 9, characterized in thatthat the obstacle networks (A, A ', B, B') consist of one or morea plurality of dielectric, isotropic magnetic or metallic conductiveBodies exist.
    [11]
    Kalibriereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis10, dadurch gekennzeichnet, dass die Leitungselemente als Koplanarleitungen,Schlitzleitungen, Hohlleitungen oder dielektrische Leitungen ausgebildetsind.Calibration device according to one of claims 1 to10, characterized in that the line elements as coplanar lines,Slot lines, hollow lines or dielectric lines formedare.
    [12]
    Verfahren zum Kalibrieren eines vektoriellen Netzwerkanalysatorsunter Verwendung einer Kalibriereinrichtung, die mehrere Kalibrierschaltungen(0.,1.,2.,3.,4.) umfasst,die zumindest teilweise Obstakel-Netzwerke (A,A',B,B')aufweisen, die keine oder nur eine geringe Transmission haben, wobeidie Transmissionsmatrixgleichungen der Kalibrierschaltungen (0.,1.,2.,3.,4.)dadurch gelöstwerden, dass in den Transmissionsmatrixgleichungen anstatt der Transmissionsmatrizender Obstakel-Netzwerke (A,A',B,B') Pseudo-Transmissionsmatrizenverwendet werden, die aus den Transmissionsmatrizen der Obstakel-Netzwerke(A,A',B,B') durch Multiplikationmit auf Grund der verschwindenden Transmission gegen Null konvergierendenDeterminanten der Messwertmatrizen gebildet werden.A method of calibrating a vectorial network analyzer using a calibration device comprising a plurality of calibration circuits ( 0 ., 1 ., 2 ., 3 ., 4 .) comprising at least partially Obstakel networks (A, A ', B, B'), which have no or only a small transmission, wherein the transmission matrix equations of the calibration circuits ( 0 ., 1 ., 2 ., 3 ., 4 .) can be solved by using in the transmission matrix equations pseudo-transmission matrices, instead of the transmission matrices of the obstacle networks (A, A ', B, B'), which consist of the transmission matrices of the obstacle networks (A, A ', B, B). B ') are formed by multiplication with determinants of the measured value matrices converging to zero due to the vanishing transmission.
    [13]
    Verwendung einer Kalibriereinrichtung nach einemder Ansprüche1 bis 11 zur Bestimmung der Permittivität und/oder Permeabilität einerMaterialprobe dadurch gekennzeichnet, dass die Leitungselementejeweils Übertragungstreckenim Freiraum (10) sind und die vorzugsweise plattenförmige Materialprobeals Obstakel (2) nacheinander an zumindest zwei Positionen(8, 9) im Freiraum (10) angeordnet wird.Use of a calibration device according to one of claims 1 to 11 for determining the permittivity and / or permeability of a material sample, characterized in that the line elements in each case transmission paths in the free space ( 10 ) and the preferably plate-shaped material sample as Obstakel ( 2 ) successively at at least two positions ( 8th . 9 ) in open space ( 10 ) is arranged.
    类似技术:
    公开号 | 公开日 | 专利标题
    Shuppert1988|Microstrip/slotline transitions: Modeling and experimental investigation
    US10620248B2|2020-04-14|Vector network analyzer
    Aksun et al.1992|Derivation of closed-form Green's functions for a general microstrip geometry
    US6653848B2|2003-11-25|Method and apparatus for linear characterization of multi-terminal single-ended or balanced devices
    DuHamel et al.1966|Broadband logarithmically periodic antenna structures
    EP2287584B1|2015-01-28|Messsystem zur drahtlosen positionsunabhängigen Messung der Temperatur eines Messobjekts
    DE60005342T2|2004-06-24|METHOD AND DEVICE FOR REDUCING RESONANCES AND NOISE TRANSFER IN POWER DISTRIBUTION CIRCUITS USING FLAT LADDERS
    CN104502878B|2018-07-31|微波GaAs衬底在片S参数微带线TRL校准件
    Lee et al.1996|An accurate broadband measurement of substrate dielectric constant
    DE602004010162T2|2008-10-30|EFFICIENT SWITCHING ARCHITECTURE WITH REDUCED STUB LENGTHS
    DE69834106T2|2007-04-19|ARRANGEMENT OF A COPLANAR HTS RF SAMPLE COIL FOR NMR ATTRACTION ON MULTIPLE FREQUENCIES
    DE10015384B4|2004-02-12|A / D conversion device, calibration unit and method therefor
    US7148702B2|2006-12-12|VNA and method for addressing transmission line effects in VNA measurement data
    DE60314830T2|2008-03-13|Method for diagnosing a fault in a transformer winding
    DE102008063630B4|2011-04-14|Method for controlling a radio frequency transmitter, radio frequency transmitter, radio frequency controller and magnetic resonance imaging system
    EP0243898B1|1991-09-25|Schaltung zur Kettenkompensation der Nichtlinearität eines Verstärkers
    US20040193382A1|2004-09-30|Method and apparatus for calibrating a multiport test system for measurement of a DUT
    US4982164A|1991-01-01|Method of calibrating a network analyzer
    DE102013200618A1|2013-08-01|Generating an indoor radio card, locating a target in the interior
    Moallem et al.2012|Miniaturized-element frequency selective surfaces for millimeter-wave to terahertz applications
    DE10205904A1|2003-08-21|Distance measuring device and method for determining a distance
    DE10259820B4|2006-05-24|DNA chip
    EP0095517A1|1983-12-07|Verfahren und Einrichtung zur automatischen optischen Inspektion
    DE10338072A1|2004-04-01|Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren eines Meßvorrichtungswegs und zum Messen einer Testvorrichtung in dem kalibrierten Meßvorrichtungsweg
    DE60024128T2|2006-06-29|PRINTED PCB WITH LOSS-BASED POWER DISTRIBUTION NETWORK TO REDUCE POWER SUPPLY LEVEL RESONANCES
    同族专利:
    公开号 | 公开日
    DE102004012217B4|2018-01-04|
    引用文献:
    公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
    法律状态:
    2005-04-07| OM8| Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law|
    2005-04-07| OP8| Request for examination as to paragraph 44 patent law|
    2017-09-08| R016| Response to examination communication|
    2017-09-18| R018| Grant decision by examination section/examining division|
    2018-10-05| R020| Patent grant now final|
    优先权:
    申请号 | 申请日 | 专利标题
    DE10340442||2003-09-02||
    DE10340442.2||2003-09-02||
    DE102004012217.2A|DE102004012217B4|2003-09-02|2004-03-12|LR1R2 method for calibration of vector network analyzers and corresponding calibration device|DE102004012217.2A| DE102004012217B4|2003-09-02|2004-03-12|LR1R2 method for calibration of vector network analyzers and corresponding calibration device|
    [返回顶部]